由聯(lián)盟成員單位賽邁科材料股份有限公司牽頭，聯(lián)合北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司、湖南三安半導體有限公司、山東大學、中國科學院半導體研究所聯(lián)合提出的《碳化硅襯底晶體生長用石墨構件純度測定方法》團體標準提案，經(jīng)CASAS管理委員會投票獲得通過，2023年11月20日正式立項，并分配標準編號：T/CASAS 036。

秘書處將向CASAS正式成員發(fā)出征集起草單位的通知，組建標準起草小組，請CASAS正式成員關注秘書處郵件（casas@casa-china.cn）。
T/CASAS 036—20XX《碳化硅襯底晶體生長用石墨構件純度測定方法》描述了碳化硅襯底晶體生長用石墨構件純度測定的原理、試驗環(huán)境、儀器設備、試劑與材料、試樣、試驗步驟、試驗結果、試驗報告及質(zhì)量控制的方法。適用于碳化硅襯底晶體生長用石墨構件純度（≥99.9995 wt%）的測定,單個元素含量測定范圍為0.01 mg/kg～5 mg/kg。

----文章轉自CASA----